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半導(dǎo)體加成工藝專用諧波減速機(jī)CSD-14-50-2UH

半導(dǎo)體加成工藝專用諧波減速機(jī)CSD-14-50-2UH

半導(dǎo)體加成工藝專用諧波減速機(jī)CSD-14-50-2UH機(jī)械工業(yè)出版社出版的書。作者:張淵。出版時(shí)間:2015年8月。簡要介紹了半導(dǎo)體器件基本結(jié)構(gòu) 、半導(dǎo)體器件工藝的發(fā)展歷史、半導(dǎo)體材料基本性質(zhì)及半導(dǎo)體制造中使用的化學(xué)品,以典型的CMOS管的制造實(shí)例為基礎(chǔ)介紹了集成電路的制造過程及制造過程中對環(huán)境的要求及污染的控制。


硅片是一種硅材料通過加工切成一片一片的。硅是一種硬度很高的物質(zhì),硅材料看起來像石頭一樣,他要經(jīng)過清洗干凈然后用爐子加熱融化形成一個(gè)大塊的硅錠,然后再用特定機(jī)器來進(jìn)行細(xì)切成一片一片。

半導(dǎo)體加成工藝專用諧波減速機(jī)CSD-14-50-2UH主要工藝過程:多晶硅--區(qū)熔或直拉--單晶硅棒--滾、切、磨、拋--硅片

硅晶圓silicon wafer) 是一切集成電路芯片的制作母材。既然說到晶體,顯然是經(jīng)過純煉與

結(jié)晶的程序。晶體化的制程,大多是采用「柴可拉斯基」

(Czycrasky) 拉晶法(CZ法)。拉晶時(shí),將特定晶向(orientation) 的晶種(seed),浸入過飽和的純硅熔湯(Melt) 中,并同時(shí)旋轉(zhuǎn)拉出,硅原子便依照晶種晶向,乖乖地一層層成長上去,而得出所謂的晶棒(ingot)晶棒

的阻值如果太低,代表其中導(dǎo)電雜質(zhì) (impurity dopant) 太多,還需經(jīng)過FZ法 (floating-zone) 的再結(jié)晶 (re-crystallization),將雜質(zhì)逐出,提高純度與阻值。

輔拉出的晶棒,外緣像椰子樹干般,外徑不甚一致,需予以機(jī)械加工修邊,然后以X光繞射法,定出主切面 (primary flat) 的所在,磨出該平面;再以內(nèi)刃環(huán)鋸,削下一片片的硅晶圓。最后經(jīng)過粗磨 (lapping)、化學(xué)蝕平(chemical etching) 與拋光(polishing) 等程序,得出具表面粗糙度在0.3微米以下拋光面之晶圓。(至于晶圓厚度,與其外徑有關(guān)。) 剛才題及的晶向,與硅晶體的原子結(jié)構(gòu)有關(guān)。硅晶體結(jié)構(gòu)是所謂「鉆石結(jié)構(gòu)」(diamond-structure),系由兩組面心結(jié)構(gòu) (FCC),相距(1/4,1/4,1/4) 晶格常數(shù) (lattice constant;即立方晶格邊長) 疊合而成。我們依米勒指針法 (Miller index),可定義出諸如:、、 等晶面。所以晶圓也因之有 、、等之分野。有關(guān)常用硅晶圓之切邊方向等信息,請參考圖2-2。現(xiàn)今半導(dǎo)體業(yè)所使用之硅晶圓,大多以 硅晶圓為主。其可依導(dǎo)電雜質(zhì)之種類,再分為p型 (周期表III族) 與n型 (周期表V族)。半導(dǎo)體加成工藝專用諧波減速機(jī)CSD-14-50-2UH由于硅晶外貌完全相同,晶圓制造廠因此在制作過程中,加工了供辨識(shí)的記號(hào):亦即以是否有次要切面 (secondary flat) 來分辨。該次切面與主切面垂直,p型晶圓有之,而n型則闕如。 硅晶圓循平行或垂直主切面方向而斷裂整齊的特性,所以很容易切成矩形碎塊,這是早期晶圓切割時(shí),可用刮晶機(jī) (scriber) 的原因 (它并無真正切斷芯片,而只在表面刮出裂痕,再加以外力而整齊斷開之。)事實(shí)上,硅晶的自然斷裂面是,所以雖然得到矩形的碎芯片,但斷裂面卻不與晶面垂直! 以下是訂購硅晶圓時(shí),所需說明的規(guī)格:項(xiàng)目說明 晶面 、、 ± 1o 外徑(吋) 3 4 5 6 厚度(微米) 300~450 450~600 550~650 600~750(±25) 雜質(zhì) p型、n型 阻值(Ω-cm) 0.01 (低阻值) ~ 100 (高阻值) 制作方式 CZ、FZ (高阻值) 拋光面單面、雙面 平坦度(埃) 300 ~ 3,000 北京特博萬德科技有限公司

本教材的編寫簡化了深?yuàn)W的理論論述,半導(dǎo)體加成工藝專用諧波減速機(jī)CSD-14-50-2UH在對基本原理介紹的基礎(chǔ)上注重對工藝過程、工藝參數(shù)的描述以及工藝參數(shù)測量方法的介紹,并在半導(dǎo)體制造的幾大工藝技術(shù)章節(jié)中加入了工藝模擬的內(nèi)容,彌補(bǔ)了實(shí)踐課程由于昂貴的設(shè)備及過高的實(shí)踐費(fèi)用而無法進(jìn)行實(shí)踐教學(xué)的缺憾。在教材編寫過程中,從半導(dǎo)體生產(chǎn)企業(yè)獲得了大量的工藝設(shè)備、工藝過程及工藝參數(shù)方面的素材對教材進(jìn)行了充實(shí)。

本教材根據(jù)集成電路的發(fā)展趨勢,主要介紹了集成電路工藝的前端部分,即清洗、氧化、化學(xué)氣相淀積、金屬化、光刻、刻蝕、摻雜和平坦化等幾個(gè)主要工藝,具體每一道工藝中都詳細(xì)講述了工藝的基本原理、工藝的操作過程和工藝對應(yīng)的設(shè)備,并加入了部分工藝模擬的操作,力求把當(dāng)前比較新的工藝介紹給讀者。

本教材主要供高等院校微電子相關(guān)專業(yè)的高年級本科生或大專生習(xí),也可以作為從事集成電路工藝工作的工程技術(shù)人員自學(xué)或進(jìn)修的參考書。

簡要介紹了半導(dǎo)體器件基本結(jié)構(gòu) 、重點(diǎn)介紹了包括清洗、氧化、化學(xué)氣相淀積、金屬化、光刻、刻蝕、摻雜、平坦化幾大集成電路制造工藝的工藝原理工藝過程,工藝設(shè)備、工藝參數(shù)、質(zhì)量控制及工藝模擬的相關(guān)內(nèi)容。


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